+7 (812) 575‑51‑26 +7 (812) 575‑51‑27

Zeiss представила новый профилометр SURFCOM 50

Zeiss представила новый профилометр SURFCOM 50

Компания ZEISS Industrial Metrology представила на выставке IMTS (International Manufacturing Technology Show) новый профилометр SURFCOM 50.

SURFCOM 50 — модель начального уровня, оснащенная тремя небольшими датчиками отслеживания, которые выполняют измерения различных характеристик, данные о них отображаются на большом сенсорном экране.

Новый SURFCOM 50 — это отличная портативная модель, удобная для переноски. Для более высокоточных измерений ZEISS предлагает настольную систему SURFCOM 550.

Напомним, что профилометр — это прибор, предназначенный для измерения неровностей поверхности. Для оценки неровности поверхности часто используют специальный показатель — шероховатость поверхности. Типичный профилометр содержит шкалу, на которой и отсчитываются значения показателя шероховатости поверхности.


Последние публикации

Zeiss представила новый профилометр SURFCOM 50

Zeiss представила новый профилометр SURFCOM 50

21.09.2018 Теги: испытательная лаборатория

Компания ZEISS Industrial Metrology представила на выставке IMTS (International Manufacturing Technology…

Тепловизор FLIR на дроне DJI

Тепловизор FLIR на дроне DJI

06.04.2018 Теги: мониторинг

Компания FLIR Systems объявила об интерграции своих тепловизионных сканеров FLIR с беспилотными летательными…

Trimble 4D Go for Buildings — система мониторинга зданий в сейсмически активных регионах

Trimble 4D Go for Buildings — система мониторинга зданий в сейсмически активных регионах

16.03.2018 Теги: мониторинг Trimble 4D Go for Buildings представляет собой новую систему мониторинга поведения зданий в сейсмически…
Показать все записи блога

ВЫБЕРИТЕ НУЖНУЮ УСЛУГУ